Rapport avseende projektet STES

Relevanta dokument
Bengt Magnhagen CTH/E-65. Ingenjörshögskolan i Jönköping AB

Magisterexamen i elektroteknik Läsår 2006/07

Verksamhetsplan 2013

Datateknik Teknologie kandidatexamen, 180 sp

Om mig. Varför finns vi? Vad är VA-kluster Mälardalen?

%HQJW0DJQKDJHQ,QJHQM UVK JVNRODQL- QN SLQJ &RS\ULJKW%HQJW0DJQKDJHQ/L7+

Digital elektronik och inbyggda system

KTH Royal Institute of Technology

Inbyggda System. med start Inbyggda System,

Kompetensnav, inbyggda system

Å R S R E D O V I S N I N G SVENSKA FÖRENINGEN FÖR GRAFISK DATABEHANDLING

Lunds Tekniska Högskola Datorarkitektur med operativsystem EITF60. Superscalar vs VLIW. Cornelia Kloth IDA2. Inlämningsdatum:

Kompetensnav för Tillförlitlig Elektronikhårdvara (KTE)

Samverkansformer och resultat av FFI HP projekt vid tillverkning av transmissionsdetaljer

Underhållsplanering för flerkomponentsystem kostnadseffektivisering med hjälp av en optimeringsmodell för opportunistiskt underhåll

SAMVERKAN FÖR ATT MÖTA SAMHÄLLSUTMANINGAR

ISTQB Testarens ledstjärna

SESAM. Agila metoder

IRIS Integrerat Dynamiskt Prognostiserande Underhållsstöd

Kompetensnav, inbyggda system

UTMANINGSBASERAT LÄRANDE I FÖRSTA PROGRAMMERINGSKURSEN

Simulering av brand i Virtual Reality

Informations- och Kommunikationsteknik

Validering av data för energimätning

Sida 2 (6) De långa tider som krävs för att etablera WiFi kontakt i kombination med de begränsade täckningsområdena är ett problem med dagen teknik.

Lokal handlingsplan för hållbar utveckling 2015 vid Akademin för vård, arbetsliv och välfärd

Banbrytande elektronik vid LTH

Towards Blocking---resistant Communication on the Internet

Nordic Evaluation of Sport Science

Vad är speciellt med IT-säkerhet?

Produktion2030. Strategiskt innovationsprogram för hållbar produktion i Sverige Cecilia Warrol, programchef

Permanentmagnetiserade generatorer för vindkraftverk

Testbed Railway - VAD

Sveriges mest engagerade teknik- och IT-konsulter

Inst f experimentell medicinsk vetenskap dokument uppdaterat maj 2007

Årsredovisning

SIMD i Intel s P5- baserade Pentium MMX

Solcellsanläggningar i världsklass en workshop om prestanda och tillförlitlighet

L15 Introduktion modern digital design

Civilingenjör i elektroniksystem, 300 hp

Kompetensnav för Tillförlitlig Elektronikhårdvara (KTE)

LiTH Segmentering av MR-bilder med ITK Efterstudie MCIV. Anders Eklund. Status

Kursprogram hösten 2011

Tillgänglighet och Resursutnyttjande. Öppen konferens 2:a dec påinitiativ av.

Förstudie Detaljeringsnivå för informationsleveranser

INTRODUKTION TILL VIVADO

Rundabordssamtal om vårdvetenskapens framtid i Stockholm. Strategiska forskningsområdet vårdvetenskap

Trenger innovasjon ledelse?

std_logic & std_logic_vector

Skogliga skattningar med 3D data från flygbilder - Framtiden efter NNH

Configuration testing Why? Vad det är tänkt att koden ska göra. Performance testing Kommentarer Skriva om koden som kommentar

Regeringsuppdrag: förslag till FoU-program Produktionsteknik. Ulf Holmgren VINNOVA

Lunds Universitet LTH Ingenjörshögskolan IDa1, IEa1 Helsingborg. Laboration nr 4 i digitala system ht-15. Ett sekvensnät. grupp. namn.

DIGITAL ELEKTRONIK. Laboration DE3 VHDL 1. Namn... Personnummer... Epost-adress... Datum för inlämning...

WIP, Wireless Independent Provider AB (publ).

Anujan Balasingam IDA14 NAND flashminnen

Å R S R E D O V I S N I N G SVENSKA FÖRENINGEN FÖR GRAFISK

LOW CODE ETT ENKLARE SÄTT ATT ACCELERERA DIGITALISERING!

Lägesrapport DokId:

'HOWHQWDPHQ 6\VWHPNRQVWUXNWLRQ

Implementering - teori och tillämpning inom hälso- och sjukvård

Bedömningskriterier för finansiering av forskning vid HKR

CADEC CALLISTA DEVELOPER S CONFERENCE

Projektplan. Pedagogisk utveckling och förnyelse av campusundervisning med stöd av informations och kommunikationstekniker

Regressionstestning teori och praktik

Cacheminne Intel Core i7

Modelica. Traditionella simuleringsverktyg. Ny generell fysikalisk modellering. Generella program. Specialiserade program

DATATEKNIK, TkK ÅRSKURS 1 Läsåret Block Kod Lärare Datum Tid och auditorium M Ti O To F

Processorfamiljer idag och i framtiden

QC i en organisation SAST

FÖRPROSJEKTRAPPORT. Simuleringsmodell för mikro regenerativa applikationer i fastigheter

Cross-border. Åsa Kyrk Gere, Myndigheten för samhällsskydd och beredskap

Sammanträde med styrelsen för Högskolan Dalarna

NORDIC GRID DISTURBANCE STATISTICS 2012

Ny programansvarig och visioner för Datateknik, 300hp

Användning av virtuella tekniker inom sjukvård. - Exempel på demonstratorer framtagna vid Högskolan i Skövde

Innehåll. Livscykelanalys - exempel. De olika LCA stegen. De olika LCA stegen

TkF/KT. Hösten Allmän kemi x x Analytisk kemi x x Anläggnings- och apparatteknik x Apparatteknik I x Apparatteknik II

Winternet Ett svenskt inititativ för avancerad Internetforskning. Grand Finale workshop IVA, Stockholm 18 augusti 2005

NEXT GENERATION ELECTRICAL ARCHITECTURE

Mönster. Ulf Cederling Växjö University Slide 1

Mälardalens högskola

HT1 2013, FÖRELÄSNING 14 (INFÖR TENTAN)

Rekonfigurerbar produktion

ITS Forskarskolan. Christer Karlsson Roberto Bauducco

KTH Royal Institute of Technology

Certifierad testare SSTB Ingvar Nordström

Hållbar avfallshantering Avfallshantering som bidrar till utvecklingen mot ett hållbart samhälle: Miljö Ekonomi Acceptans

eller

Hållbara städer i ett backcastingperspektiv

Introduktion till vetenskaplig metodik. Johan Åberg

Programmerbar logik och VHDL. Föreläsning 1

Forskningsaktörernas roll för att stärka Svensk produktion. Professor Lars Pejryd Högskolan Trollhättan Uddevalla.

Arrowhead - Process- och energisystem- automation

Våra barn och ungdomar är vår framtid! Presentation av projektidé - KNUT

En konferens om framtida och nutida utveckling av Sveriges olika elsystem. CHALMERS KONFERENS MAJ 2017, GÖTEBORG

Sekvensnät i VHDL del 2

UTVECKLA FRAMTIDENS VÅRD OCH OMSORG MED STÖD AV IT

R&D ur RUAG Space perspektiv. NRFP-2 Slutseminarium, 11 nov 2014 Tomas Thungren, Commercial Affairs RUAG Space AB

Transkript:

RAPPORT 1 (6) Informationskopia LiTH Zebo Peng Chalmers Peter Dahlgren HJ Bengt Magnhagen DST/U/HR Lars-Olov Eriksson Mottagare NUTEK Håkan Håkansson Combitech Jan-Olof Andersson Rapport avseende projektet STES Nedan följer en redovisning av status för projektet STES (diarienummer 1N12P-97-10364) avseende perioden 1998-01-01 1999-11-20. 1 MÅLUPPFYLLNAD De tre delprojekten har bedrivits i stort sett enligt projektspecifikationen. De förändringar av inriktning som skett har företrädesvis motiverats av omsättning av doktorander. F.n. deltar 6 doktorander, handledda av seniora forskare i respektive forskargrupp. 2 VERKSAMHET OCH UPPNÅDDA RESULTAT Delprojekt 1 (System Level Self-Test) har uppnått följande resultat: Formulering av en hierarkisk självtestarkitektur för inbyggda system, vilken består av både HW- och SW-komponenter. Teknik för att stöda konstruktion med arkitekturen, särskilt avseende HW/SW-system, har inletts. Metoder för testbarhetsanalys, partitionering och hierarkisk testgenerering för system, som realiseras i både HW och SW har utvecklats. Metoderna omfattar konstruktionsflödet från specificering till realisering. En komplett konstruktionsmiljö för stöd av metoderna, i vilken verktyg för detta integrerats, har utvecklats och demonstrerats. Resultaten presenterades på IEEE NORCHIP konferensen. En metod för att kombinera pseudo-random tester med deterministiska tester är under utveckling. Metoden optimerar testtid och feltäckning, och ska implementeras som en BIST-lösning. Metoder har utvecklats för testbarhetsanalys och transformering av konstruktioner på beteendenivå i en miljö för högnivåsyntes. Seminarier inom ovanstående har hållits på Ericsson.

RAPPORT 2 (6) Delprojekt 2 (Self-Test in Microelectronics) har uppnått följande resultat: En utvecklingsmiljö för testimplementering har skapats. Koncept för testprocessorer har utvärderats. Verktyg för Boundary Scan Test har utvecklats och installerats. Demonstratorer med tillämpning inom automotive har specificerats, varav en är under implementering. Testmetoder för BIST av demonstratorn är under utveckling. Delprojekt 3 (Fault Modelling and Defect Coverage) har uppnått följande resultat: Verktyg för felsimulering och testgenerering på transistornivå har utvecklats. Verktygen tar bättre hänsyn till fel i deep submicron teknologi än traditionella. Metoder för modellering av sådana fel togs fram och lade grunden för verktygen. Heuristik för effektivare hantering av stora kretsar har tagits fram för verktygen. Metoden bygger på kretspartitionering. Experimentella resultat visar förbättringar av feltäckning jämfört med traditionella verktyg. Påverkan av sänkt matningsspänning på testkvalitet och feltäckning har studerats. Publikationer: G. Jervan, P. Eles, Z. Peng, J. Raik, and R. Ubar, "High-level Test Synthesis with Hierarchical Test Generation," Proc. IEEE NORCHIP Conference, Oslo, Nov. 8-9, 1999. E. Larsson and Z. Peng, "An Estimation-based Technique for Test Scheduling," Proc. 2nd Electronic Circuits and Systems Conference (ECS'99), Bratislava, Slovakia, Sept. 6-8, 1999. G. Jervan, P. Eles, and Z. Peng, "A Hierarchical Test Generation Technique for Embedded Systems," Proc. 2nd Electronic Circuits and Systems Conference (ECS'99), Bratislava, Slovakia, Sept. 6-8, 1999. G. Jervan, P. Eles, and Z. Peng, "A Uniform Test Generation Technique for Hardware/Software Systems," Compendium IEEE European Test Workshop, Constance, Germany, May 25-28, 1999. T. Yang and Z. Peng, "An Improved Register-Transfer Level Functional Partitioning Approach for testability," Journal of Systems Architecture, in press, 1999.

RAPPORT 3 (6) E. Larsson and Z. Peng, "A Behavioral-Level Testability Enhancement Technique," Compendium IEEE European Test Workshop, Constance, Germany, May 25-28, 1999. T. Yang and Z. Peng, "An Improved Register-Transfer Level Functional Partitioning Approach for testability," Proc. Euromicro'98 Workshop on Digital System Design: Architectures, Methods and Tools, Västerås, Aug. 25-27, 1998, pp. 107-114. T. Yang and Z. Peng, "Incremental Testability Analysis for Partial Scan Selection and Design Transformations," Compendium IEEE European Test Workshop, Sitges, Spain, May 27-29, 1998, pp.107-112. E. Larsson and Z. Peng, "Testability Analysis of Behavioral-Level VHDL Specifications," Compendium IEEE European Test Workshop, Sitges, Spain, May 27-29, 1998, pp.143-144. K. Wiklund, T. Magnusson and P. Dahlgren, "Switch-Level Fault Simulation and Test Generation for Competing Bridging Faults", IEEE European Test Workshop, 1998, pp. 135-136 P. Dahlgren, "Switch-Level Bridging Fault Simulation in the Presence of Feedback", Proc. International Test Conference, 1998, (ITC-98), pp. 363-371 B. Magnhagen, "Test strategy for a 486 computer Multichip Module", Proc. Baltic Electronics Conference, Tallinn, October 7-9, 1998. K. Petersén, "Reserapport från ITC98", Elektronik i Norden, nr. 1-99 K. Petersén, "BIST", Elektronik i Norden, nr 9-99 B. Magnhagen, "Test problems in an MCM design for an automotive application", System Test Workshop, ITC 99, Atlantic City, October 1999. K. Petersén, "Dyrt att testa, reserapport från ITC 99", Elektronik I Norden, nr. 18-99. G. Carlsson, The Ericsson Perspective to SOC Testing, IEEE P1500 meeting minutes (at DATE 99), Munich, March 1999 G. Carlsson, DFT Enhances PCB Manufacturing, Future Circuits International no. 4 1998

RAPPORT 4 (6) Övriga resultat: Presentationer av STES och dess delprojekt samt delresultat har hållits i olika sammanhang, t.ex. på internationella konferenser, på nationella konferenser, som EDA-Träff 99, och på Ericsson. Kurser och seminarier har utvecklats och hållits. Uppnådd industrirelevans: Projektet har ett nära samarbete med industrin, där främst Ericsson och Combitech Electronics deltar aktivt. Industrin har främst bidragit genom formulering av relevanta problem, genom att bidra I utveckling av demonstratorer samt genom kontinuerlig uppföljning av resultat och inriktning. 3 RESULTATSAMMANFATTNING Licensiatexamina 2 + 2 planerade Föredrag vid konferenser 13 nationella 1 internationella 12 Föredrag på högskolor 4 Seminarier för industrin 7 Tidskriftsartiklar 5 Refererade artiklar/föredrag 10 Nya kurser vid högskolorna 3 Nya metoder/verktyg 3

RAPPORT 5 (6) 4 PLANER FÖR PROJEKTETS FORTSÄTTNING 2000-01-01 2000-12-31 4.1 MÅL FÖR PERIODEN Under perioden avses att huvudsakligen slutföra påbörjade arbeten för att uppnå de mål enligt den ursprungliga planen, vilka ännu inte uppnåtts. Vidare, vilket är typiskt för forskningsprojekt, har många uppslag till förbättringar och nya idéer inom området väckts. De mest intressanta av dessa kommer att bearbetas, som framgår av nedanstående. 4.2 FÖRVÄNTADE RESULTAT Delprojekt 1: Rapport avseende orsaken till att pseudo-random tester, genererade av en HWimplementerad generator (LFSR), inte detekterar vissa fel. En metod för deterministisk testgenerering för dessa fel, implementerad on-chip. Färdigställande av metoden för kombinerad BIST, implementerad med både pseudorandom tester och deterministiska tester. Integrering av verktyg som stöder metoderna I en konstruktionsmiljö. Delprojekt 2: Demonstratorn färdigställd. BIST-metoder kompletta och demonstrerade. Rapport avseende testprogramimplementering. En licensiatavhandling avseende Embedded Test Processor. Delprojekt 3: Rapport avseende effekterna av minskade geometrier och matningsspänning på förväntad feltäckning. Metoder och verktyg för deterministisk felsimulering av low power/low voltage system i submikrometer teknologi. Metoder för optimering av testning för minimal effektförbrukning. Två licensiatavhandlingar inom ovanstående områden.

RAPPORT 6 (6) 4.3 BUDGET FÖR PERIODEN Att rekvirera från NUTEK. Alla belopp nedan är i KSEK. ETX HJ CTH LiTH Totalt Löner 40 175 480 540 1235 Utrustn./Programvara 70 60 130 Material 10 7 10 27 Resor 40 30 40 110 Förvaltning 75 103 150 328 Summa 40 370 620 800 1830 Kostnad för Ericsson som ej täcks av NUTEK Totalt 265 4.4 PROJEKTLEDNING Projektet avses även fortsättningsvis ledas enligt den ursprungliga planen, då detta visat sig vara ändamålsenligt och effektivt.