Schema Mätteknik F 2016 Vecka 13 DigOsc torsdag 31-mar Förel 10-12 (E:B) Vecka 14 DigOsc måndag 04-apr Förel 13-15 (E:B) tisdag 05-apr onsdag 06-apr Lab 8-12 torsdag 07-apr Lab 8-12 Lab 13-17 fredag 08-apr Lab 8-12 Lab 13-17 Mä#eknik(2016! Vecka 15 AD/DA Multimeter-räknare måndag 11-apr tisdag 12-apr Övn/Lek 10-12 onsdag 13-apr Lab 8-12 torsdag 14-apr Lab 8-12 Lab 13-17 fredag 15-apr Lab 8-12 Lab 13-17 Vecka 16 AD/DA Multimeter-räknare måndag 18-apr tisdag 19-apr Övn/Lek 10-12 onsdag 20-apr Lab 8-12 torsdag 21-apr Lab 8-12 Lab 13-17 fredag 22-apr Lab 8-12 Lab 13-17 Digitala(oscilloskop( Vecka 17 Störningar Mätsystem måndag 25-apr tisdag 26-apr Övn/Lek 10-12 onsdag 27-apr Lab 8-12 torsdag 28-apr Lab 8-12 Lab 13-17 fredag 29-apr Lab 8-12 Lab 13-17 Vecka 18 måndag 02-maj Förel 13-15 (E:B) torsdag 05-maj KRISTIHIMMELSFÄRDSDAG Vecka 19 Omtentamensperiod Vecka 20 Störningar Mätsystem måndag 16-maj tisdag 17-maj Övn/Lek 10-12 onsdag 18-maj Lab 8-12 torsdag 19-maj Lab 8-12 Lab 13-17 fredag 20-maj Lab 8-12 Lab 13-17 Vecka 21 tisdag 24-maj Extra test kl 10-11 Lektions- och laborationsschema EEM007 Mätteknik VT 2016 Läsvecka 7: Föreläsning måndag 2/5 i E:B kl. 13-15 Laboration Torsdag 8-12 Läsvecka 4 Läsvecka 5 Läsvecka 6 Läsvecka 8 GRUPP 3 Multimeter räknare A/D - D/A omvandling Störningar Mätsystem 3:1 Ylva Wahlquist! Axel Henningsson Lektion Laboration Lektion Laboration Lektion Laboration Lektion Laboration 3:2 Oscar Fredriksson! Karolina Sandell Tisdag 12 april, Torsdag 14 april, Tisdag 19 april, Torsdag 21 april, Tisdag 26 april, Torsdag 28 april, Tisdag 17 maj, Torsdag 19 maj, kl 10-12 kl 8-12 kl 10-12 kl 8-12 kl 10-12 kl 8-12 kl 10-12 kl 8-12 sal E:1328 sal E:1310 sal E:3308 sal E:1309 B sal E:3308 sal 1310 sal E:1328 sal 1309 B 3:3 Johanna Wilroth! Måns Axelsson Lab#lokal 1309o1310 E#huset Prak1sktprov 1325 3:4 Anna Dalklint! Elin Olofsson Rapport 3:1 "Granskning 3:2 Rapport 3:3 Granskning 3:4 Rapport 3:4 Granskning 3:1 Rapport 3:2 Granskning 3:3 GRUPP 4 A/D - D/A omvandling Multimeter räknare Mätsystem Störningar 4:1 Viktor Hultgren! Hanna Liang Lektion Laboration Lektion Laboration Lektion Laboration Lektion Laboration 4:2 Marko Sarajärvi! Pontus Nordin 4:3 Annie Ydström! Sofia Leonardsson Tisdag 12 april, Torsdag 14 april, Tisdag 19 april, Torsdag 21 april, Tisdag 26 april, Torsdag 28 april, Tisdag 17 maj, Torsdag 19 maj, kl 10-12 kl 8-12 kl 10-12 kl 8-12 kl 10-12 kl 8-12 kl 10-12 kl 8-12 sal E:3308 sal E:1309 B sal E:1328 sal E:1310 sal E:1328 sal 1309 B sal E:3308 sal 1310 4:4 Ludvig Rassmus! Alexander Selberg Rapport 4:1 Granskning 4:2 Rapport 4:3 Granskning 4:4 Rapport 4:4 "Granskning 4:1 Rapport 4:2 Granskning 4:3 Läsvecka 7: Föreläsning måndag 2/5 i E:B kl. 13-15 Laboration Torsdag 13-17 Läsvecka 4 Läsvecka 5 Läsvecka 6 GRUPP 5 Multimeter räknare A/D - D/A omvandling Störningar Läsvecka 8 Mätsystem 5:1 Rebecca Ahrling! Elin Nordström Lektion Laboration Lektion Laboration Lektion Laboration Lektion Laboration 5:2 Hugo Sellerberg! Erik Sandström 5:3 Tom Richter! Fritiof Carling Tisdag 12 april, Torsdag 14 april, Tisdag 19 april, Torsdag 21 april, Tisdag 26 april, Torsdag 28 april, Tisdag 17 maj, Torsdag 19 maj, kl 10-12 kl 13-17 kl 10-12 kl 13-17 kl 10-12 kl 13-17 kl 10-12 kl 13-17 sal E:1328 sal E:1310 sal E:3308 sal E:1309 B sal E:3308 sal 1310 sal E:1328 sal 1309 B 5:4 Justin Ma! Erik Norlander Rapport 5:1 "Granskning 5:2 Rapport 5:3 Granskning 5:4 Rapport 5:4 Granskning 5:1 Rapport 5:2 Granskning 5:3 GRUPP 6 A/D - D/A omvandling Multimeter räknare Mätsystem Störningar 6:1 Gustav Schölin! Eric Wulff Lektion Laboration Lektion Laboration Lektion Laboration Lektion Laboration 6:2 Marcus Johansson! Seif Al-Shakargi 6:3 Oskar Klang! Marcel Attar Tisdag 12 april, Torsdag 14 april, Tisdag 19 april, Torsdag 21 april, Tisdag 26 april, Torsdag 28 april, Tisdag 17 maj, Torsdag 19 maj, kl 10-12 kl 13-17 kl 10-12 kl 13-17 kl 10-12 kl 13-17 kl 10-12 kl 13-17 sal E:3308 sal E:1309 B sal E:1328 sal E:1310 sal E:1328 sal 1309 B sal E:3308 sal 1310 6:4 Erik Wik! Erik Steen Rapport 6:1 Granskning 6:2 Rapport 6:3 Granskning 6:4 Rapport 6:4 "Granskning 6:1 Rapport 6:2 Granskning 6:3 Läsanvisningar Modern elektronisk mätteknik: Kap. 5 - Probens uppbyggnad och egenskaper (326-336) Kap. 6 - Digitala minnesoscilloskop (347-381) Kap. 8 - Frekvensanalys (437, 443-448) Digitalt(oscilloskop( Uppgifter 5.10 (346) 26-29 Uppgifter 6.10 (389-390): 1, 3-22 Uppgifter 8.6 (471): 8-11 Läs igenom laborationshandledningen. Du skall känna till och kortfattat kunna beskriva: Probens uppbyggnad och funktion Skillnader mellan olika samplingsmetoder både för engångsförlopp och repetetiva förlopp Nackdelar och fördelar för digitala oscilloskop jämfört med analoga ocilloskop Vikningsbegreppet Olika former av triggning Minnesdjup, samplingshastighet och upplösning hos digitala oscilloskop. Bandbredd FFT Fönsterfunktioner (FFT) För godkänd laboration krävs: Godkänt på de skriftliga förberedelsefrågorna. Godkänd laboration Godkänt på praktiskt prov. Denna examination bokar man en tid till (efter laborationen) på anslagstavlan. Under detta prov, som tar ca 15 minuter, skall man visa att kan hantera oscilloskopet, samt kunna svara på de teoretiska frågor som examinatorn ställer under provtiden. För att ha en chans att bli godkänd på det praktiska provet bör man öva själv tills man känner sig säker på oscilloskopet. Det kommer att finnas uppställningar för övning på egen hand i ett rum på institutionen. 1
Digitalt(oscilloskop( (Ver9kal(inställning( Digitalt(oscilloskop( (Horisontell(inställning( Digitalt(oscilloskop(;(Triggning( Digitalt(oscilloskop( (Mä=unk9oner( Analogt(<;>(digitalt(oscilloskop( Ingångssteg( (Ver9kal;(eller(Y;led( AD Minne 2
AC;koppling(av(ingång(;(Bandbredd( Oscilloskopingång( Oscilloskopingång(;(Ingångsimpedans( Oscilloskop;probkabel,(1:1( En koaxialkabel på 1 m har en kapacitans på ca 100 pf. Denna kapacitans hamnar parallellt med oscilloskopingången och ökar belastningen på mätobjektet. Oscilloskop;prob,(10:1( Probkompensering (Endastför10:1probpålab) En prob kan förbättra situationen genom att införa en spänningsdelning via en resistans och kapacitans i probspetsen. Med en 10:1 prob hamnar endast 1/10 av spänningen över mätobjektet på oscilloskopets ingång, men belastningen på mätobjektet minskar (varför?) Eftersom oscilloskopets ingångskapacitans inte är helt känd och kan variera något från oscilloskop till oscilloskop måste probens kapacitans justeras för att säkerställa 10:1 dämpning av mätsignalen för högre frekvenser (då det är kapacitanserna i prob och oscillskopingång som bestämmer spänningsdelningen). 3
Prober( Digitalt(oscilloskop( AD;omvandlare,(Flash( Sampling( Snabb Upplösning,typiskt<10bitar Oscilloskopetpålabben 8bitar,Max1 GS/s Sampling( (Hur(snabb?( Sampling( (Hur(snabb?( f s /2>f max 4
Sampling( (Vikning( Sampling( (Vikning( (An9viknings;filter (Ejpåoscilloskopetpålabben) Sampling( (Effek9v(samplinghas9ghet( Bandbredd( 2500minnespunkterioscpålab Ingångsstegets(analoga(bandbredd DC#kopplat Samplingsmetoder( Real1dssampling Sekven1ellrepe11vsampling Slumpmässigrepe11vsampling 5
Samplingsmetoder Real1dssampling ioscpålab Samplingsmetoder Sekven1ellrepe11vsampling Samplingsmetoder Slumpmässigrepe11vsampling Sampling( (Ver9kal(upplösning Frekvensanalys( Frekvensanalys( (Samplade(signaler( Sampling av en kontinuerlig signal f s sampelfrekvens T s = 1/f s tid mellan varje sampel N antal sampel NT s Insamlingstid Vid fourierutvecklingen av en samplad signal upprepas det samplade förloppet periodiskt med perioden NT s 6
Frekvensanalys( (Samplade(signaler( Exempel på frekvensspektrum f s sampelfrekvens T s = 1/f s tid mellan varje sampel N antal sampel NT s Insamlingstid Frekvensupplösning i spektra: f s /N = 1/NTs = 1/insamlingstiden FFT( (Vikning((Aliasing) FFT( (Läckage( FFT( (Läckage( FFT( (Läckage( (Fönsterfunk9oner Ex.Hanningfönster Digitala(oscilloskop(;(fördelar( #USB,Ethernet,WiFi. 7
Digitala(oscilloskop( (fördelar Digitala(oscilloskop(;(nackdelar( 8