Digitala kretsars dynamiska egenskaper

Relevanta dokument
Undersökning av logiknivåer (V I

Experiment med schmittrigger

Mät kondensatorns reaktans

Spolens reaktans och resonanskretsar

De grundläggande logiska grindarna

Mät elektrisk ström med en multimeter

Strömdelning. och spänningsdelning. Strömdelning

Lödövning, likriktare och zenerstabilisering

Elektronik grundkurs Laboration 6: Logikkretsar

Mät resistans med en multimeter

EMK och inre resistans - tvåpolen

Potentialmätningar och Kirchhoffs lagar

Undersökning av olinjär resistans

Laborationshandledning

Mätningar på transistorkopplingar

Systemkonstruktion LABORATION LOGIK

Mät spänning med en multimeter

Felsökning på 6803LAB - ett mikroprocessorkort

Apparater på labbet. UMEÅ UNIVERSITET Tillämpad fysik och elektronik Elektronik/JH. Personalia: Namn: Kurs: Datum:

ETE115 Ellära och elektronik, vt 2013 Laboration 1

Blinkande LED med 555:an, två typkopplingar.

Laborationshandledning

TSTE20 Elektronik Lab5 : Enkla förstärkarsteg

ELEKTROTEKNIK. Laboration E701. Apparater för laborationer i elektronik

ETE115 Ellära och elektronik, vt 2015 Laboration 1

Institutionen för elektrisk mätteknik

DIGITALTEKNIK. Laboration D173. Grundläggande digital logik

Strömförsörjning. Laboration i Elektronik 285. Laboration Produktionsanpassad Elektronik konstruktion

LTK010, vt 2017 Elektronik Laboration

Laborationshandledning för mätteknik

Laboration 1: Styrning av lysdioder med en spänning

Laborationshandledning för mätteknik

Laboration II Elektronik

Laboration 2 Elektriska kretsar Online fjärrstyrd laborationsplats Blekinge Tekniska Högskola (BTH)

DEL-LINJÄRA DIAGRAM I

Mät spänning med ett oscilloskop

4 Laboration 4. Brus och termo-emk

Elektronik grundkurs Laboration 1 Mätteknik

Laborationsrapport Elektroteknik grundkurs ET1002 Mätteknik

Laborationsrapport. Kurs El- och styrteknik för tekniker ET1015. Lab nr. Laborationens namn Lik- och växelström. Kommentarer. Utförd den.

OLOP II Obligatorisk LAB operationsförstärkare Analog elektronik 2

Umeå universitet Tillämpad fysik och elektronik Ville Jalkanen mfl Laboration Tema OP. Analog elektronik för Elkraft 7.

TSKS06 Linjära system för kommunikation Lab2 : Aktivt filter

Elektroteknikens grunder Laboration 1

Tentamen i Elektronik, ESS010, den 15 december 2005 klockan 8:00 13:00

RC-kretsar, transienta förlopp

Konstruktion av volt- och amperemeter med DMMM

- Digitala ingångar och framförallt utgångar o elektrisk modell

Op-förstärkarens grundkopplingar. Del 2, växelspänningsförstärkning.

Laboration - Operationsfo rsta rkare

Laboration - Va xelstro mskretsar

Ingång Utgång - anslutningstyp Specifikationer Mätområde (1) AC (växelström) DC (likström) Spänning. ström 10 V AC 0.1 V AC

Laborationsrapport. Kurs Elinstallation, begränsad behörighet. Lab nr 2. Laborationens namn Växelströmskretsar. Kommentarer. Utförd den.

Att fjärrstyra fysiska experiment över nätet.

DIGITALTEKNIK I. Laboration DE1. Kombinatoriska nät och kretsar

Målsättning: Utrustning och material: Denna laboration syftar till att ge studenten:

Elektro och Informationsteknik LTH. Laboration 6 A/D- och D/A-omvandling. Elektronik för D ETIA01

Tentamen i Elektronik - ETIA01

TRANSISTORER. Umeå universitet Institutionen för tillämpad fysik och elektronik

Extralab fo r basterminen: Elektriska kretsar

Sven-Bertil Kronkvist. Elteknik. Tvåpolssatsen. Revma utbildning

Tentamen i Elektronik, ESS010, del1 4,5hp den 19 oktober 2007 klockan 8:00 13:00 För de som är inskrivna hösten 2007, E07

Digitalteknik: CoolRunner-II CPLD Starter Kit Med kommentarer för kursen ht 2012

DIGITALTEKNIK I. Laboration DE2. Sekvensnät och sekvenskretsar

3.4 RLC kretsen Impedans, Z

Laboration N o 1 TRANSISTORER

Förstärkning Large Signal Voltage Gain A VOL här uttryckt som 8.0 V/μV. Lägg märke till att förstärkningen är beroende av belastningsresistans.

Spä nningsmä tning äv periodiskä signäler

Elektricitetslära och magnetism - 1FY808. Lab 3 och Lab 4

Systemkonstruktion LABORATION SWITCHAGGREGAT. Utskriftsdatum:

4:4 Mätinstrument. Inledning

IDE-sektionen. Laboration 5 Växelströmsmätningar

VÄXELSTRÖM SPÄNNINGSDELNING

Elektro och Informationsteknik LTH. Laboration 3 RC- och RL-nät i tidsplanet. Elektronik för D ETIA01

Qucs: Laboration kondensator

Lab Tema 2 Ingenjörens verktyg

Laboration D151. Kombinatoriska kretsar, HCMOS. Namn: Datum: Epostadr: Kurs:

Elektro och Informationsteknik LTH. Laboration 5 Operationsförstärkaren. Elektronik för D ETIA01

TSTE05 Elektronik och mätteknik ISY-lab 3: Enkla förstärkarsteg

Du har följande material: 1 Kopplingsdäck 2 LM339 4 komparatorer i vardera kapsel. ( ELFA art.nr datablad finns )

Så sparas ström i dagens åttabitare

Elektro och Informationsteknik LTH Laboration 4 Tidsplan, frekvensplan och impedanser

Sensorer och mätteknik Laborationshandledning

Tentamen i Elektronik, ESS010, del 2 den 17 dec 2007 klockan 8:00 13:00 för inskrivna på elektroteknik Ht 2007.

LABORATIONSINSTRUKTION LABORATION. Typdata, Grindar, Booleska uttryck KURS LAB NR. Digitalteknik INNEHÅLL. 1. Labdäcket IDL-800

Tentamen i Elektronik för E, 8 januari 2010

DIFFERENTALFÖRSTÄRKARE

Elektro och Informationsteknik LTH. Laboration 2 Elektronik för D ETIA01

Digitalteknik: CoolRunner-II CPLD Starter Kit

IDE-sektionen. Laboration 5 Växelströmsmätningar

Isolationsförstärkare

VÄXELSTRÖM SPÄNNINGSDELNING

Vanliga förstärkarkopplingar med operationsförstärkaren

Tid- och frekvensmätning Ola Jakobsson Johan Gran, labbhandledare

DIGITAL MULTIMETER BRUKSANVISNING MODELL DT9201

LABORATIONSINSTRUKTION

Elektronik grundkurs Laboration 5 Växelström

Laborationshandledning

Tentamen i Elektronik, ESS010, del 1 den 18 oktober, 2010, kl

DIGITALTEKNIK. Laboration D161. Kombinatoriska kretsar och nät

Transkript:

dlab00a Digitala kretsars dynamiska egenskaper Namn Datum Handledarens sign. Laboration Varför denna laboration? Mycket digital elektronik arbetar med snabb dataöverföring och strömförsörjs genom batterier. Det är därför viktigt att känna till de grundläggande skillnader som finns mellan kretsfamiljerna just med hänsyn till effektförbrukning och förmågan att klara höga datahastigheter. I den här laborationen skall du undersöka strömmar och effektförbrukning hos logikkretsar av typen LS00, HC00 samt 0 som alla innehåller fyra st NAND-grindar men tillhör tre olika kretsfamiljer. Du skall undersöka vilka strömmar som finns på kretsarnas ingångar, statisk och dynamisk effektförbrukning samt undersöka hur utsignalens utseende påverkas vid hög frekvens på indata. Inkoppling av spänningsmatning För inkoppling av spänningsmatningen behöver du den digitala kopplingsplattan, multimeter, LS00, HC00 samt 0B. Placera samtliga tre kretsar efter varandra på kopplingsplattan och anslut V spänningsmatning till samtliga kretsar. Grundkopplingen för spänningsmatningen är denna (jämför med databladen): LS00 HC00 0 Kontrollmät spänningsmatningen över varje krets den skall vara V. Utrustning mm Analog eller Digital multimeter Oscilloskop * Spän ningsag gre gat som ger V DC * Kopplingsplatta * Diverse: Kopplingssladdar för spänningsaggregat, flera färger isolerad enkelledare till kopplingsplattan samt avbitartång * Komponentsats: Dioder N (st), motstånd k (st), kondensator 00pF (st) IC: LS00, HC00 samt 0 (Komponentsats: ELK0A) Datablad: LS00, HC00 och CD0 (finns i bilaga till läroboken) Får kopieras med angivande nde av källan: Belganet Dataelektronik aelektronik - www.bde.se Sidan

Digitala kretsars dynamiska egenskaper Mätning av inströmmar Dags att koppla in kretsarna Nu har du spänningsmatning till kretsarna och en variabel spänningskälla för 0 - V. Som framgår av databladet och bilden nedan skiljer sig kretsarnas benkonfiguration. För LS00 och HC00 gäller samma koppling (nedan t.v) medan 0-serien har sin egen koppling (nedan t.h). LS00, HC00 0 0 0 VCC VCC Strömmen för :a in Du skall först undersöka hur mycket ström som de olika kretsarna drar på ingången. Eftersom ingångar på IC-kretsar inte bör lämnas oinkopplade väljer vi att mäta strömmen till Vi mäter först strömmen vid hög signal in Koppla efter det här schemat: µa µa LS00 HC00 0 0 0 Anteckna mätvärdet i tabellen nedan. Observera att strömmar räknas som positiva om de går in i kretsen och negativa om de går ut från kretsen. Anteckna strömmarna med rätt tecken! Krets I IH (alla ingångar) I IH /ingång I IH enl datablad LS00 HC00 0 Sidan

Laboration Strömmen för 0:a in Du skall nu fortsätta med att undersöka vilken ström de olika kretsarna drar på ingången vid låg insignal. Kopplingen är samma som tidigare. Det är bara insignalen som ändras. Koppla efter det här schemat: µa µa LS00 HC00 0 0 0 Obs: den totala strömmen på ingångarna ga kan vara mycket låg. Anteckna strömmarna med rätt tecken! Krets I IL (alla ingångar) I IL /ingång LS00 HC00 0 I IL enl datablad Dynamisk strömförbrukning utan last Ovan har du undersökt hur mycket ström kretsarna drar på sina ingångar. Du skall nu gå vidare och se vad som händer med hela kretsens strömförbrukning i såväl statiskt som dynamiskt tillstånd. (Dynamiskt betyder att kretsen arbetar - switchar mellan hög och låg.) En generator skall kopplas in på det här viset: k LS00 HC00 µa µa 0 k 0 0 Kretsens strömförbrukning skall mätas så som kopplingsschemat ovan visar. Använd en analog eller digital multimeter med låg inre resistans. Pulsgeneratorn skall lämna V:s pulser som inte får vara negativa. (Detta innebär att du kan behöva justera såväl "DC-offset" som "level" på pulsgeneratorn.) Se till att pulsgeneratorn har korrekta nivåer innan du kopplar in den på kretsarna. (Dioderna finns där enbart för säkerhets skull och skall inte användas för att fixa till nivåerna! ) Pulserna ut från generatorn skall ha 0% dutycycle. (pulslängden= halva periodtiden). Sidan

Digitala kretsars dynamiska egenskaper Använd oscilloskopet för att kontrollera pulsernas nivåer ut från generatorn. Mät på en krets i taget. Variera frekvensen från Hz och upp till MHz enligt tabellen. Hz (gärna lägre) motsvarar statiskt tillstånd. Anteckna strömmen vid varje frekvens. Beräkna effekten ( ) /grind som V CC I. Dynamisk effektförbrukning för LS00 LS00/ Frekvens Hz 00Hz 000Hz 0kHz 00kHz MHz I CC / grind /grind Dynamisk effektförbrukning för HC00 HC00/ I CC / /grind Kalkylerat Frekvens grind (se nedan) Hz ---------- 00Hz ---------- 000Hz ---------- 0kHz ---------- 00kHz ---------- MHz För en CMOS typ HC00 (och 0) kan den dynamiska effektförbrukningen utan last ungefärligt beräknas som: =C PD V CC f Hämta värdet på C PD för HC00 från databladet: Räkna ut teoretisk dynamisk effekt ( ) per grind vid frekvensen MHz och skriv in det i tabellen ovan. Visa uträkningen här: Sidan

Laboration Dynamisk effektförbrukning för 0 0/ I CC / /grind Kalkylerat Frekvens grind Hz ---------- 00Hz ---------- 000Hz ---------- 0kHz ---------- 00kHz ---------- MHz Hämta värdet på C PD för 0 från databladet: Räkna ut teoretisk dynamisk effekt ( =C PD V CC f ) per grind vid frekvensen MHz och skriv in det i tabellen ovan. Visa uträkningen här: Dynamisk strömförbrukning vid kapacitiv last Vid kapacitiv last tillkommer den ström som krävs för att ladda upp och ur den kapacitiva lasten. Du behåller samma koppling som i föregående experiment med kopplar nu in kapacitiva laster (00pF) på samtliga grindar. Kopplingsschemat kommer då att se ut så här: LS00 HC00 µa µa 00pF 0 00pF 00pF 00pF 0 00pF 0 00pF 00pF 00pF Kretsens strömförbrukning mäts. Pulsgeneratorn skall lämna V:s pulser som inte får vara negativa och pulserna ut från generatorn skall ha 0% dutycycle (pulslängden=halva periodtiden). Mät på en krets i taget. Gör endast en mätning vid frekvensen MHz. Anteckna strömmen vid varje frekvens. Beräkna effekten ( ) /grind som V CC I. Den effektförbrukning som tillkommer kan beräknas på samma sätt som den interna dynamiska effekten: P C =C L V CC f där C L är lasten, i detta fall 00pF. Sidan

Digitala kretsars dynamiska egenskaper Dynamisk effektförbrukning för LS00, HC00 och 0 vid kapacitiv last och vid frekvensen MHz. Krets I CC /grind P TOT med T last LS00 HC00 0 /grind utan last P C Överföring av data vid hög frekvens Du skall nu använda oscilloskopet för att undersöka hur väl kretsarna förmår överföra datasignaler vid hög frekvens. Kopplingen är samma som ovan. Med oscilloskopet mäter du stig- (t TLH ) och falltid (t ) på såväl insignaler som utsignaler vid frekvensen THL MHz. Välj ut och mät på en av grindarna i varje krets. OBS: Stig- och falltid mäts mellan 0 och 0% av hela svinget. Krets LS00 HC00 0 Insignal t THL Insignal t TLH Utsignal t THL Utsignal t TLH Visa hur in- och utsignalen ser ut för 0: Insignal Ange stig- och falltiden U Utsignal Ange stig- och falltiden U t t Sidan

Laboration Avslutande uppgifter. Vilken av de tre kretsarna som du laborerat på är den mest lämpliga för att överföra datasignaler vid hög frekvens (om man bortser från strömförbrukning)?. Vilken av kretsarna är den minst lämpliga för att överföra datasignaler vid hög frekvens?. Undersök med hjälp av databladet för HC00 och/eller 0 hur förmågan att överföra data med hög frekvens påverkas av matningsspänningen (V CC ). C. Vilka av följande påståenden är riktiga: För CMOS-kretsar ökar strömförbrukningen med ökad frekvens på indatat. Ju högre matningsspänning desto mindre är en IC-krets effektförbrukning. LS00 har större statisk effektförbrukning än HC00. 0 har den lägsta statiska effektförbrukningen i jämförelse med LS00 och HC00. Man kan motverka hög effektförbrukning vid höga frekvenser genom att istället sänka matningsspänningen (V CC ). C Stor kapacitiv last gör att kretsarnas strömförbrukning ökar. En 0 har de kortaste stig- och falltiderna i jämförelse med LS00 och HC00. Man skall alltid välja en kretsfamilj som har kortast möjliga stig- och falltider. Man skall välja en kretsfamilj som har tillräckligt korta stig- och falltider med hänsyn till applikationen. Mina synpunkter Jag tycker den här laborationen var: Tråkig Jobbig Rolig Svår Lagom Lätt Lärorik och/eller: Sidan