Mätsystem Lektion inför lab.

Relevanta dokument
Mätsystem. Upplägg. Josefin Starkhammar. Före pausen: Efter pausen:

Mätteknik 2016 Mätsystem

ESSF10 Mätteknik för E & D - Mätsystem Del 1

Mätteknik 2016 Mätsystem

TMFT13 Fö: Mätdatorer

LabVIEW - Experimental Fysik B

Datainsamlingssystem Data acquistion (DAQ) systems

Apparater på labbet. UMEÅ UNIVERSITET Tillämpad fysik och elektronik Elektronik/JH. Personalia: Namn: Kurs: Datum:

Mätteknik (ESSF10) Kursansvarig: Johan Nilsson Översiktligt kursinnehåll

TFEI01 Föreläsningsanteckning. Mätdatainsamling med DAQ- OCH GPIB-kort Instrumentkommunikation

Ellära. Laboration 3 Oscilloskopet och funktionsgeneratorn

Mätteknik. Biomedicinsk teknik (Elektrisk Mätteknik), LTH

Kortlaboration Fil. Mätning av vikt med lastcell. Förstärkning, filtrering och kalibrering av mätsignal.

Mätteknik (ESSF10) Kursansvarig: Johan Nilsson Översiktligt kursinnehåll

- Digitala ingångar och framförallt utgångar o elektrisk modell

2E1112 Elektrisk mätteknik

Kortlaboration Fil. Mätning av vikt med lastcell. Förstärkning, filtrering och kalibrering av mätsignal.

Mätteknik E-huset. Digitalt oscilloskop Vertikal inställning. Digitalt oscilloskop. Digitala oscilloskop. Lab-lokal 1309 o 1310

A/D D/A omvandling. Lars Wallman. Lunds Universitet / LTH / Institutionen för Mätteknik och Industriell Elektroteknik

Filtrering av matningsspänningar för. känsliga analoga tillämpningar

COMBI Kanalers Kombinations Modul

Lab 3. Några slides att repetera inför Lab 3. William Sandqvist

A/D D/A omvandling Mätteknik för F

Lab 4. Några slides att repetera inför Lab 4. William Sandqvist

Laboration 1: Styrning av lysdioder med en spänning

APPARATER PÅ ELEKTRONIKLABBET

Kombi-instrument UPM 3010 PK1

Mätteknik Digitala oscilloskop

Introduktion. Torsionspendel

A/D D/A omvandling. EEM007 - Mätteknik för F 2015 CHRISTIAN ANTFOLK

Bilaga till laborationen i TSKS09 Linjära System

LabVIEW uppgift 4. Erik Andersson och Johan Schött. 22 februari 2010

LTK010, vt 2017 Elektronik Laboration

Tentamen i Elektronik, ESS010, del 2 den 6 mars 2006 SVAR

Figur 1 Konstant ström genom givaren R t.

Mätteknik Digitala oscilloskop

4 Laboration 4. Brus och termo-emk

Laboration 3 Sampling, samplingsteoremet och frekvensanalys

AD-DA-omvandlare. Mätteknik. Ville Jalkanen. 1

Spä nningsmä tning äv periodiskä signäler

Chalmers Tekniska Högskola och Mars 2003 Göteborgs Universitet Fysik och teknisk fysik Kristian Gustafsson Maj Hanson. Svängningar

Labb forskning och behov. Fredrik Arrhén

Kalibratorer med simuleringsfunktion för ström, spänning och temperaturer

Läsinstruktioner. Materiel

AQ-Box med Winlog kanalers mätsystem samlar och bearbetar 8 givarsignaler i en PC

4:4 Mätinstrument. Inledning

2 Laborationsutrustning

Laboration 4: Tidsplan, frekvensplan och impedanser. Lunds universitet / Fakultet / Institution / Enhet / Dokument / Datum

1/32-DIN TEMPERATURREGULATOR (PID

Kom igång med DSO-X 2014A

Temperaturgivare, teknik mm

Innehållsförteckning. Figur- och tabellförteckning. Figure 1 Blockschema över hårdvaran...4 Figure 2 Blockschema över programet...

Grundläggande ellära Induktiv och kapacitiv krets. Förberedelseuppgifter. Labuppgifter U 1 U R I 1 I 2 U C U L + + IEA Lab 1:1 - ETG 1

Swema 05. Bruksanvisning vers 1.01 MB

Automationsteknik Laboration Givarteknik 1(6)

OSCILLOSKOPET. Syftet med laborationen. Mål. Utrustning. Institutionen för fysik, Umeå universitet Robert Röding

Multimeter och räknare AD-omvandling. Multimeter

Elektro och Informationsteknik LTH. Laboration 2 Elektronik för D ETIA01

Elektro och Informationsteknik LTH. Laboration 2 Elektronik för D ETIA01

Kom igång med DSO-X 2014A

Ellära. Laboration 4 Mätning och simulering. Växelströmsnät.

Laborationsrapport Elektroteknik grundkurs ET1002 Mätteknik

RC-kretsar, transienta förlopp

Spänningsmätning av periodiska signaler

Enchipsdatorns gränssnitt mot den analoga omvärlden

Laborationsrapport. Kurs Elinstallation, begränsad behörighet. Lab nr 2. Laborationens namn Växelströmskretsar. Kommentarer. Utförd den.

LabVIEW Laboration 5

Elektroteknikens grunder Laboration 1

5-29 Distribuerade I/O

Strömmätning på riktigt

Fluke 170-serien Digitala multimetrar med sann RMS

Signalbehandling, förstärkare och filter F9, MF1016

CoaxData a step into a digital world KONTROLL AV KABEL-TV-NÄT OCH INSTALLATIONSTIPS


- Exempel på elektrotekniskt innehåll i en Mutterdragare och en maskin för tillverkning av elektronik. - Vinkel och varvtalsmätning med pulsgivare

Mätning av elektriska storheter. Oscilloskopet

Introduktion till fordonselektronik ET054G. Föreläsning 3

Mät kondensatorns reaktans

UltraLink Controller FTCU. Dimensioner. Beskrivning. Underhåll Behöver vanligtvis inget underhåll. Fabriksinställningar. Beställningsexempel

Advant OCS. Det kompakta och kostnadseffektiva I/O-systemet S200L I/O. Open Control System

Swema 03. Bruksanvisning vers 1.01 MB

Grundläggande A/D- och D/A-omvandling. 1 Inledning. 2 Digital/analog(D/A)-omvandling

Datorbaserad mätteknik

DGN 75. Programmerbart universalinstrument

Sensorer och Mätteknik 2014

IE1206 Inbyggd Elektronik

Lab Tema 2 Ingenjörens verktyg

Elektronik grundkurs Laboration 1 Mätteknik

Laborationskort - ML4

Isolationsförstärkare

Tid- och frekvensmätning -inför laborationen-

Elektronik Elektronik 2017

A/D D/A omvandling. EEM007 - Mätteknik för F 2016 CHRISTIAN ANTFOLK / LARS WALLMAN

Laboration 2 - Modulering I denna laboration skall vi

Förslag till beslut/åtgärd

Spolens reaktans och resonanskretsar

Sensorer och brus Introduktions föreläsning

Introduktion. Metod. EMC-check

Adash 3900 Omvandlare för vibrationer till 4 20 ma strömloop. Ref: RS

Multimeter och räknare Del 2: Räknare. Räknare - varför

Transkript:

Mätsystem Lektion inför lab. Josefin Starkhammar www.bme.lth.se josefin.starkhammar@bme.lth.se

Upplägg Före pausen: - Mätsystem - Gränssnitt - Lite om laborationen Efter pausen: - LabVIEW introduktion och genomgång - Laborationsövningar (integrerat)

LabVIEW introduktion och genomgång Laborationsövningar (integrerat) Fysikaliskt fenomen Mätsystem Presentation av data

Exempel på mätsystem - I Physical entety Measurement system Signal processing Transducer, sensor Signal conditioning, e. g. noise filters and signal amplifiers Measurement instruments with a computer bus, e. g. USB or a PCI bus Computer Physical entety, e. g. sound wave

Measurement system structure Fysikalisk storhet Mätsystem Presentation (och kontroll) Tryck Temperatur Vinkelhastighet Ljusstyrka Flöde Töjning etc Givaranpassning Insamlingskort (PCI) Busstyrning av instrument GPIB (parallell) RS232 (seriell) Bussystem med flera integrerade och standardiserade instrument VXI/PXI Realtidskontrollers Fältbussar Grafiska LabVIEW Agilent VEE (DASYlab) Kommandobas. LabWindows Visual Basic Visual C/C++ Matlab

Mätsystem uppbyggnad [Givaranpassning] Givaren reagerar på omvärden och ger en: Resistansändring (töjningsgivare, Pt100) -> bryggkoppling Spänning (termoelement, piezogivare) Ström (halvledargivare) -> generera spänningsfall över känt R Signalen filtreras (50 Hz), isoleras (opto) och förstärks Sedan A/D omvandlas den med hjälp av mätsystemet Tänk på att anpassa signalen till A/D omvandlarens arbetsområde Optimera det dynamiska området (skillnaden mellan minsta och största detekterbara värde) för maximal mätupplösning

Mätsystem - GPIB Tre typer av enheter (Controller, Talker, Listener) 31 primäradresser (Talker resp. Listener) 8 bitar parallell överföring Max 2 m kabel per instrument på bussen Max 20 m kabel totalt. (Kan utökas med extender) Max 15 enheter anslutna. (Kan utökas med extender) Upp till 1 MB/s överföringshastighet (jfr USB 3.0 med 625 MB/s)

Mål med laborationen Introduktion till LabVIEW Koppla upp ett enkelt datorstyrt mätsystem Karakterisera dämpningen av störningar vid mätning med digital multimeter (Glöm inte att anmäla er till Datorbaserade Mätsystem i LP2 i höst.)

Störningsdämpning Antag att vi har en dc-nivå som vi vill mäta noggrant Överlagrad på den finns en störning med viss frekvens (typiskt 50 Hz) En multimeter har vissa inbyggda funktioner för att dämpa sådana störningar

Mätuppställning För att simulera en störning använder vi en funktionsgenerator HP 33120A Vi försöker mäta offseten (en dc-nivå) med en multimeter HP 34401A Beroende på hur störningsdämpningen funkar kommer vi då att mäta olika mycket fel

Mätuppställning Gör ett program som mäter hur stort mätfelet blir vid olika störningsfrekvenser! Programmet ska 1. Konfigurera instrumenten 2. Samla in mätdata 3. Plotta mätdata i en graf

Störningsbegränsning med Dualslope -principen Används för att medelvärdesbilda en varierande signal i störningsbekämpning Prioritera upplösning eller omvandlingstid Längre tid > högre upplösning

Dual-slope -principen

Dual-slope -principen Exempel Uref = -1.000 V Tref = 1000 klockcykler Tx = 345 klockcykler Ux = -(-1/1000)*345 = 345 mv

Instrumentstyrning med GPIB Kommandon skickas som strängar över GPIBbussen. APPLy:SINusoid [<frequency> [,<amplitude>]] APPLy:SINusoid 5E+3, 3.0 FUNCtion:SHAPe SINusoid FREQuency 5.0E+3 VOLTage 3.0 FREQeucy? begär information om inställt värde

Dual-Slope principen Exempel inför Laborationen T ref styrs med kommandot: VOLT:DC:NPLC 1 (kan vara 1 eller 10) NPLC Number of Power Line Cycles Antalet 50 Hz-perioder NPLC = 1 T ref = 1/50 s = 20 ms (= 50Hz). NPLC = 10 T ref = 10*1/50 s=200 ms (= 5 Hz)

Under laborationen: 1. Kontrollera GPIB-adressen på instrumentet. 2. Rensa GPIB-systemet på gamla kommandon etc. (*CLS) 3. Se till att instrumentet är i känt läge. (*RST) 4. Gör mätinställningar på instrumentet. 5. Välj triggkälla för mätningen. 6. Se till att instrumentet är redo att ta emot triggning. 7. Se till att mätvärdet hamnar i instrumentets utbuffert (trigga). 8. Läs in mätvärdet i datorn. 9. Presentera mätvärdet i en graf eller liknande.

Laborationsförberedelser Appendix A Manualutdrag för Multimetern HP 34401A Appendix B Manualutdrag för Funktionsgeneratorn HP 22120A För att klara av labben så måste ni gå igenom minst Appendix A och B!!! Följ även läsanvisningarna i labhandledningen.

LabVIEW

LabVIEW - VI (Virtual Instrument) Frontpanel Blockdiagram

Frontpanel Blockdiagram

LabVIEW - Paletter Verktyg Kontroller Funktioner

LabVIEW - Paletter Verktyg Kontroller Funktioner

LabVIEW - Paletter Verktyg Kontroller Funktioner

LabVIEW - Hjälpmenyn

LabVIEW - Variabeltyper

LabVIEW - Variabeltyper (felsökning)

LabVIEW LabVIEW-programmering på riktigt